XAU-4C光谱分析仪性能优势：1.微小样品检测：最小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量。 4.*解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。

XTD(B)镀层测厚仪，专业表面处理检测解决方案： XTD系列测厚仪，专用于检测各种异形件，特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。 仪器优点： 1. 分析精度* 2. 分析范围广泛

XAU光谱分析仪是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。 应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。 被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

XTU-BL X荧光光谱仪是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。 测量面积：最小0.002mm²镀层分析：23层镀层24种元素仪器特点：可手动变焦仪器优势：同元素不同层分析

XTU-50B X射线荧光谱仪 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和*光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。

出租出售X-RAY测厚仪 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和*光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。