镀层测厚仪 天瑞仪器 涂层膜厚仪

镀层测厚仪 天瑞仪器 涂层膜厚仪 荧光光谱厚度检测仪THICK800A

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镀层测厚仪 天瑞仪器 涂层膜厚仪性能优势

可靠性高：

由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。

满足不同需求：

测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种*分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

快速：

1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。

无损：

测试前后，样品无任何形式的变化。

直观：

实时谱图，可直观显示产品测试点

简易：

对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

性价比高：

相比其他类类仪器，X光测厚仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和接受。

应用领域

X光测厚仪主要针对金属镀层（镀金，镀镍，镀锡，镀锌，镀铜，镀银，镀铑，镀钯等）厚度测试，广泛应用于线路板、五金工具，汽车配件，电子连接器，高压开关，卫浴等企业中，得到了客户的广泛应用和认可。

技术参数

重量：90 kg

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

长期工作稳定性高

度适应范围为15℃至30℃

元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层

一次可同时分析多达五层镀层

薄可测试0.005μm

分析含量一般为2ppm到99.9%

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

产品参数：

型号：THICK800A分析范围： Ti-U，可分析高3层15个元素分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）测量时间：40秒（可根据实际情况调整）探测器分辨率：（160±5）eV光管高压：5-50kV管流：50μA-1000μA环境温度：15℃-30℃环境湿度：30%-70%准直器：配置不同直径准直孔，小孔径φ0.2mm仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm仪器重量：30kg

标准配置:开放式样品腔。二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机

镀层测厚仪 天瑞仪器 涂层膜厚仪适用于行业领域：    

金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测

主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；

电镀行业。金属电镀镀层光谱测厚仪.

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护

欧盟RoHS测试标准 Rohs测试仪edx1800 厂家回收色谱仪 天瑞EDX-1800

适用于行业领域：

RoHS检测分析

地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析

金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测

产品参数：

元素分析范围从S元素到U元素

分析检出限可达1ppm

分析含量一般为1ppm到99.99％

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

温度适应范围为15℃至30℃

电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源

能量分辨率：160±5eV

外观尺寸： 550×416×333mm

重量：45Kg

性能特点

下照式：可满足各种形状样品的测试需求

准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用

移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点

高分辨率探测器：提高分析的准确性

的高压电源和X光管：性能好，高达50W的功率实现更高的测试效

X光测厚仪的工作原理是利用x射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台