X射线电镀膜厚分析仪

全新下照式设计、性价比高、适用性强，轻松快速解决各种平面件、异形件及电镀液的检测，且能自动判定测试结果。

1）搭载微聚焦加强型X射线发生器和*光路转换聚焦系统

2）拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm

3）核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度）

4）配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测

5）可同时分析23个镀层，24种元素，测量元素范围：氯Cl（17）- 铀U（92），涂镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92），涂镀层检出限：0.005μm

6）人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作

7）配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度10%

XU-100广泛应用于电镀层分析、紧固件行业、五金行业、汽车零部件、配饰厚度分析、电子元器件等多种行业

   利用X射线荧光进行镀层厚度测量和材料分析。能够快速无损分析以确保您的持续生产和产品质量。它基于X-射线荧光技术，可以在无需制样的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体。

优势：超高的性价比；操作简单；高质量高可靠性的全日制24小时/7天操作；快速的服务响应。

无损检测只需几秒钟，位置了保证和过程控制提供单层或多层分析，能进行合金成分的定量分析，可用于优化电镀液控制的金属离子含量分析。能够解决微小物品的微米纳米的厚度测量，不再因聚焦影响精度的傻瓜模式，原厂预做曲线，无需大量购买校正片。