XTU金属测厚仪

镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：

1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3、库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

金层测厚仪测量标准

1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2.美国标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

仪器分析原理

XTU金层测厚仪采用的是一种XRF光谱分析技术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。

样品测试步骤

1）              每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick"：

用户使用“Administrator"，密码：skyray

2）              进入测试软件后，选择“测试条件"

点击“确定"，即测试条件确定（仪器已设置好）

3）              选择“工作曲线"

如待测样品是铁镀镍，则选择Ni-Fe；其他依次类推

4）              放入“Ag片"对仪器进行初始化

初始化完成后，（峰通道为1105，计数率达到一定的数，如300以上）。

5）              待测样品测试

放入待测的样品，通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况，以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标（也称十字光标）来定位该聚焦点，将样品放在聚焦点位置。点击“开始"，输入样品名称后“确定"。

6）              测试完成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告"快捷方式中的“镀层报告"中找到。

注意：测试镀层样品时，必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。

金层测厚仪性能特点  

1. 长效稳定X铜光管；

2.半导体硅片电制冷探测器，摒弃元素识别能力较弱的计数盒；

3.内置天瑞仪器研发部研发的—信噪比增强器（SNE）与MCA多道分析器；

4.内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品；

5.脉冲处理器，数据处理快速准确；

6.手动开关样品腔，操作安全方便；

7.三重安全保护模式；

8.整体钢架结构、外型简洁；

9.FP软件，无标准样品时亦可测量。