电镀层厚度测量仪

XRF-2000使用Microsoft Windows中，允许多个任务同时进行。在操作过程中也能够审查测量，进行频谱分析，并统计处理所有同时自动测量数据发送到Microsoft Excel或其它质量控制程序。

多种测量功能

XRF-2000快速和非破坏性地测量单层，多层，和合金的组合物。在电镀液和合金的定性分析材料的金属含量也很快确定。

“点测"自动定位零件

只要将光标移动到视频图像的任何区域，点击鼠标，和舞台动作直接与X射线束下的一部分。速度快，可控部件定位在几秒钟内完成的轻松。

先锋XRF-2000电镀膜厚仪

自定义统计报表

即时预览任何的五个自定义报表格式的数据。

测量数据，包括统计数据，X-Bar＆R的图表和被测量的样品，即使是图片，可以打印各种布局。外的容限测量以红色突出显示。

激光对焦功能

精密激光聚焦于部分提供*一致的测量精度可能，并消除操作错误。

样品台向前易于工件装载

打开箱门自动向前带来的样品台易于工件装卸。精确的样品放置也得益于定位激光。

先锋XRF-2000电镀膜厚仪

多室机型

三个腔室可包括H，L，和PCB的机型。可选功能，如可编程的阶段，过滤器和多个准直器允许各种尺寸和形状为您的特殊要求的零件的测量。

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

可测单层,双层,多层,合金镀层,

测量范围:0.04-35um

测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度

全自动台面,自动雷射对焦，操作非常方便简单

韩国先锋XRF2000镀层测厚仪

检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度

主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等

韩国先锋X射线镀层测厚仪

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）

测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)

特别订制可测20cm以内高度产品

镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层厚度

测量时间：10－30秒

精度控制：

*层：±5%以内

第二层：±8%以内

第三层：±12%以内