XTU-50B X射线荧光谱仪

XTU-50B X射线荧光谱仪是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。

应用领域

线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

手表、精密仪表制造行业

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

电镀液的金属阳离子检测

XTU-50B X射线荧光谱仪性能优势：

下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm.

微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

高效率的接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

精密微型滑轨：快速定位样品。

EFP*算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

项       目 参        数
测量元素范围 Cl（17）-U（92）
涂镀层分析范围 各种元素及有机物
分析软件 EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析
软件操作 人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误
X射线装置 W靶微聚焦加强型射线管
准直器 Ø 0.05 mm  ；Ø 0.1 mm；Ø 0.2 mm；Ø 0.5 mm；准直器任意选择一种
近测距光斑扩散度 10%
测量距离 具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察 1/2.5彩色CCD，变焦功能
对焦方式 高敏感镜头，手动对焦
放大倍数 光学38-46X，数字放大40-200倍
样品台尺寸 500mm*360mm
移动方式 高精密XY手动滑轨
可移动范围 50mm*50mm
随机标准片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件 联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱