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型号:XTU-50A

X射线荧光膜厚仪

描述:X射线荧光膜厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。
搭配微聚焦射线管和*光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。
检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。
外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动.

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2024-04-27
  • 访问量

    1206
详细介绍
品牌其他品牌价格区间10万-20万
产地类别国产应用领域医疗卫生,化工,生物产业,电子,印刷包装

X射线荧光膜厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

  搭配微聚焦射线管和*光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。

  检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。

  外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都没有难度,让操作人员轻松自如。

637831064302797425346.jpg
















应用领域

  线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

  镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

  手表、精密仪表制造行业

  钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

  汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

  卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

  电镀液的金属阳离子检测

X射线荧光膜厚仪

性能优势:

  下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。

  无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm.

  微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。

  高效率的接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。

  精密微型滑轨:快速

XTU系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

  搭配微聚焦射线管和*光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。

  检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。

  外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都没有难度,让操作人员轻松自如。

637831070804215555916.jpg           
















应用领域

  线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

  镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

  手表、精密仪表制造行业

  钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

  汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

  卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

  电镀液的金属阳离子检测


性能优势:

  下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。

  无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm.

  微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。

  高效率的接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。

  精密微型滑轨:快速定位样品。

  EFP*算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

项     目 参        数
测量元素范围 Cl(17)-U(92)
涂镀层分析范围 各种元素及有机物
分析软件 EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析
软件操作 人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误
X射线装置 W靶普通射线管
准直器 Ø 0.2 mm  ;Ø 0.5 mm;准直器任意选择一种
近测距光斑扩散度 10%
测量距离 具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察 1/2.5彩色CCD,变焦功能
对焦方式 高敏感镜头,手动对焦
放大倍数 光学38-46X,数字放大40-200倍
样品台尺寸 500mm*360mm
移动方式 高精密XY手动滑轨
可移动范围 50mm*50mm
随机标准片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件 联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱

定位样品。

  EFP*算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

项     目参        数
测量元素范围Cl(17)-U(92)
涂镀层分析范围各种元素及有机物
分析软件EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析
软件操作人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误
X射线装置W靶普通射线管
准直器Ø 0.2 mm  ;Ø 0.5 mm;准直器任意选择一种
近测距光斑扩散度10%
测量距离具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察1/2.5彩色CCD,变焦功能
对焦方式高敏感镜头,手动对焦
放大倍数光学38-46X,数字放大40-200倍
样品台尺寸500mm*360mm
移动方式高精密XY手动滑轨
可移动范围50mm*50mm
随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱



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