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+2020-07-28
+XTU-BL X荧光光谱仪是一款设计结构紧凑,模块精密化程度*的镀层测厚仪,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。 测量面积:最小0.002mm²镀层分析:23层镀层24种元素仪器特点:可手动变焦仪器优势:同元素不同层分析
XTU-50B X射线荧光谱仪 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和*光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。
出租出售X-RAY测厚仪 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和*光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。
一款高精密的微型多线咬合的高精密滑轨,测厚仪高精密XY移动平台滑轨可用于X-RAY测厚仪的XY轴的位移控制,此滑轨使用多线齿轮结构从而使滑轨非常顺滑和快速同步,滑轨精工细作,操作流畅,精准度高,调节速度快,样品直接放置在平整的支撑台上,或者定位精度更高的手动XY工作台上。高精密的移动平台可以精准移动定位0.01mm。