毛细管聚焦X荧光镀层测厚仪、连接器测厚仪 此系列产品可测量金属准直无法测量的微区，多导毛细聚焦管光学元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以测量微电子设备、高级电路板、连接器、引脚框架和晶片的超微小区域。 可以测量纳米级的镀层，毛细聚焦管能将更多的X射线输出聚焦到样品上，可以敏感的反应镀层纳米级厚度变化。其焦斑小区域上的X射线强度比金属准直系统高出几个数量级。 可以实现更高的测试精度

XTU系列五金电镀测厚仪测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和*光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动.

X射线荧光膜厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和*光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动.

柔性线路板X射线膜厚仪 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和*光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm

XTD-200钕铁硼磁铁电镀层X射线分析仪 1.*EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可测量。 2.上照式设计：实现可对超大工件进行快、准、稳高效率测量。 3.自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦。 4.变焦装置算法：可对大90mm深度的凹槽高低落差件直接检测。 5.小面积测量：小测量面积0.002mm2

镀层ROHS分析一体机性能优势：1.微小样品检测：最小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.*EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量。 4.*解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。 5.高性能探测器：S