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+能量色散X射线荧光测试膜厚仪 X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。 X射线的能量穿过金属镀层的同时,金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理,我们设计出:膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪,其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪,也是薄膜表层金属元素分析仪,因响应全球环保工艺准则,故市场上普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。