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X光管是波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)最核心的部件之一,影响光管性能的主要参数有功率、电压、电流、铍窗膜厚度、阳极靶材、阴极灯丝等,其性能很大程度影响了仪器的最终性能。
在高压下,电子从灯丝表面逸出,并在电场作用下打到阳极靶材上,激发出初级X射线。在这个过程中,电子动能99%转化成热能,所以需要不断对光管进行冷却。
图1 X光管结构示意图
市面上WD-XRF的X光管有不同功率的型号。目前,大型的WD-XRF最常见的以3KW(或4KW)为主,也有1KW、2.4KW等小功率。
其最主要的区别是对元素激发效果不同,功率越大,激发效果越好,特别是对轻元素的激发。
图2 X射线荧光强度与功率
X光管的电压电流也是很重要的性能指标。电压的作用一般是对元素进行激发,其设置最佳激发电压应高于元素临界激发电位的4~10倍。
电流的作用为提高元素的荧光产额,受限于X光管的最大功率,对于重元素需要大电压,低电流的激发条件;对于轻元素需要低电压和大电流的激发条件。
图3 X射线荧光强度与电压电流的关系
Be(铍)窗膜的厚度很大程度上影响初级X射线的强度,Be(铍)窗膜越厚,对初级X射线吸收作用越强。X射线光管的Be窗膜不断向超薄发展,其目的是为了在相同功率下获得更大的激发强度 (节能环保)。
目前,市面上最薄的Be(铍)窗膜的厚度在30μm。由图2可知,在功率一定下,窗膜越薄,元素的激发效果越好,特别针对轻元素和超轻元素,其激发效果有1.5倍左右的提升。
X光管的靶材常见的是Rh靶,其特征谱线Rh Kα和Rh Lα线,能对全元素段有很好的激发。
Rh靶的弊端在于会对Rh附近元素(比如Ag、Cd等)的测试有干扰,需要仪器采用特殊的滤光片,消除靶材谱线的干扰才能进行测试。X光管也有其他靶材(比如Mo、W、Cr等)的配置,但是目前市面上很少应用于(WD-XRF),在此略过。
对于WD-XRF的X光管,上述的结构很大程度影响产生的初级X射线强度,以及对被测样品的激发效果。X光管另外的核心要求就是其X射线强度的稳定性,只有强度稳定,才能保证分析结果的稳定。
超级锐管(SST)是一种高功率金属陶瓷端窗管,为Malvern Panalytical的GAO端XRF光谱仪系列Axios、MigixFAST、PW8930及其前身、MigixPro、MigIX、PW2404、PW2400、PW2606、PW2600和PW2600设计和优化。
高强度和轻元素性能
SST具有高的总强度和优良的光元件性能,原因在于:
用尖管鼻进行近距离光学耦合
高管功率(1~4kW版本)
高发射电流(高达125Ma)
铍窗(75μm)各种阳极类型可供选择
长管寿命和高稳定性
SST管的设计是基于陶瓷技术和已证明的阴极技术。
这保证了X射线输出的高短期稳定性和长管寿命。