天瑞X射线镀层测厚仪具有哪些优势特点呢？

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。

 

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

 

天瑞X射线镀层测厚仪对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。仪器具有哪些优势特点呢？

 

可靠的高性能：测试精度、稳定性高，在提供高质量的同时减少浪费和停机时间。

更高的性价比：制造工艺升级，更具性价比，大大节省使用成本。

前沿检测技术：高级成垂直光路系统，采用*解谱技术和影像识别算法，实现精准、快速、智能、自动检测，满足企业检测需求。

使用寿命更长：模块化设计，聚焦节能，搭载自动休眠模式，延长使用寿命。

核心EFP算法：*EFP算法不但对多层测试精准、校准方便，而且解决了多层合金、上下元素重复镀层及渗层的检测难题。

四焦一体装置：搭载高集成四焦技术，可测量最大90mm深度的凹槽高低落差异形件。

上照式设计：上下位机管理分工，可实现对超大型工件的快、准、稳高效测量。

适用性强：精准测量各类金属镀层厚度的同时可对电镀液进行分析。