镀层测厚仪的原理介绍，使用需要注意什么？

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。镀层测厚仪广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护的专业仪器。

 

原理：

 

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

 

镀层测厚仪在使用过程中需要注意哪几个方面：

 

1、对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似;对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

 

2、检查基体金属厚度是否超过临界厚度。

 

3、不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

 

4、不应在试件的弯曲表面上测量。

 

5、通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

 

6、测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。