电镀镀层膜厚分析仪的主要功能与原理

 

　　电镀镀层膜厚分析仪的主要功能：

　　(1).测量：单探头全量程测厚。

　　(2).存储、删除：可存入测量数据600个，对测量中的单个可疑数据进行删除，也可以删除存储区内的所有数据。

　　(3).读：读出已存入的测量数据。

　　(4).统计：设有三个统计量。

　　(5).校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准。

　　(6).电量：具有欠压显示功能。

　　(7).蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示。

　　(8).打印：可打印测量值，选配微型打印机。

　　(9).关机：具有自动关机和手动关机两种方法。

 

　　电镀镀层膜厚分析仪的原理：

　　若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。

 

　　原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差。

 

　　特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。

 

　　使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。